Микроскопическое исследование живых объектов требует особого подхода, так как необходимо принимать особые меры по поддержанию жизнедеятельности изучаемых клеток. При этом сама методика не должна нарушать чувствительные к разнообразным воздействиям структуры живых клеток или тканей. В настоящий момент наука располагает широким спектром методов изучения объектов без влияния на их жизнедеятельность, но для получения изображения с высоким разрешением образцы в большинстве случаев требуется специально готовить, что несовместимо с сохранением протекающих в них биологических процессов.
Основные методы микроскопии
Рассмотрим самые основные методы, котторые наиболее популярны и эффективны на данный момент.
Конфокальная микроскопия
Конфокальная микроскопия подразумевает исследование при помощи особой системы линз, в которой присутствует точечная диафрагма. Она может быть:
- лазерной;
- сканирующей;
- с вращающимся диском.
Обеспечивает большее разрешение в сравнении с обычной световой методикой и очень высокий контраст.
CLEM
CLEM —это корреляционная световая методика, которая подразумевает сочетание оптической методики (как правило, флуоресцентной) с электронной, что обеспечивает заметное повышение разрешающей способности и ряд других преимуществ.
FCS
FCS подразумевает корреляционную спектроскопию в ходе проведения флуоресцентной оптической микроскопии. Корреляционный анализ дает возможность точнее отслеживать изменения интенсивности флюоресценции. Метод позволяет изучать скорость биохимических реакций, диффузию и другие процессы, протекающие в живых клетках.
СЭМ
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), которая подразумевает изучение объекта при помощи низкоинтенсивного потока электронов. Хотя и обеспечивает высочайшее разрешение, что позволяет изучать структуру молекул, требует создания высокого вакуума, что несовместимо с жизнедеятельностью клетки. Зато для определения рельефа непроводящих образцов подобные микроскопы являются самым оптимальным вариантов. Одним из популярных атомно-силовых микроскопов является Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп AFM / MFM (HPAFM) https://ilpa-tech.ru/produktsiya/zondovye-skaniruyushchie-rabochie-stantsii/151-vysokoproizvoditelnyj-afm-mfm-hpafm.
SIM
SIM подразумевает метод узорчатого освещения, что позволяет повысить разрешение обычного светового микроскопа, при снижении общей степени освещенности. За счет локальных затемнений позволяет получать картинку с повышенным контрастом и четкостью.
TEM
Просвечивающая электронная микроскопия (TEM), позволяющая получить изображение с практически атомарным разрешением. Требует использования специально подготовленных образцов толщиной не более 100 нм.
TIRF
Метод флуоресцентного исследования с полным внутренним отражением (TIRF). Позволяет наблюдать границы сред с разной преломляющей способностью, что позволяет получить разрешение около 100 нм. Это обеспечивает возможность изучения процессов, происходящих на плазматической и других мембранах.
Широкопольная микроскопия
Широкопольная микроскопия подразумевает освещение всего образца одновременно при помощи специального источника света (как правило, светодиодного). Может комбинироваться с другими оптическими инструментами.
Официальным поставщиком лабораторного оборудования, в том числе сканирующих зондовых станций в Ярославле является компания ИлПа Тех.
